|
БД по свойствам материалов, применяемых в микроэлектронике
БД по свойствам материалов, применяемых в микроэлектронике (MPMD)
Общие сведения |
Название: | БД по свойствам материалов, применяемых в микроэлектронике |
Аббревиатура: | MPMD |
Сайт: | https://cindasdata.com/products/mpmd |
Телефон: | |
Факс: | |
e-Mail: | sales@csa.com |
Примечания: | Физические и физико-химические свойства материалов, применяемых в микроэлектронике. |
Статус: | активна |
Ключевые слова |
диэлектрическая проницаемость, диэлектрические потери, керамика, коэффициент Зеебека, металл, механические, модуль Юнга, плотность, показатель преломления, ползучесть, полупроводниковые, прочность, пьезоэлектрические, твердость, температура Кюри, тепловое расширение, теплоемкость, теплопроводность, усталость, физические, химические |
Организации - разработчики |
---|
Страна | Название | Адрес |
---|
США | Center for Information and Numerical Data Analysis and Synthesis of Purdue University (CINDAS) | West Lafayette, Indiana 47906 USA |
Литературные ссылки |
№ | Авторы | Название | Источник | Год | Том | Номер | Страницы |
---|
1 | Ho C. Y., Li H.H. | Numerical databases on materials property data at CINDAS/Purdue University
| J.Chem.Inf. and Comput.Sci. | 1993 | 33 | 1 | 36-45 |
|
|
|