На главную

БД по свойствам материалов, применяемых в микроэлектронике


БД по свойствам материалов, применяемых в микроэлектронике (MPMD)

Общие сведения
Название:БД по свойствам материалов, применяемых в микроэлектронике
Аббревиатура:MPMD
Сайт:https://cindasdata.com/
Телефон:
Факс:
e-Mail:sales@csa.com
Примечания:Физические и физико-химические свойства материалов, применяемых в микроэлектронике.

Ключевые слова
диэлектрическая проницаемость, диэлектрические потери, керамика, коэффициент Зеебека, металл, механические, модуль Юнга, плотность, показатель преломления, ползучесть, полупроводниковые, прочность, пьезоэлектрические, твердость, температура Кюри, тепловое расширение, теплоемкость, теплопроводность, усталость, физические, химические

Организации - разработчики
СтранаНазваниеАдрес
СШАCenter for Information and Numerical Data Analysis and Synthesis of Purdue University (CINDAS)West Lafayette, Indiana 47906 USA

Литературные ссылки
АвторыНазваниеИсточникГодТомНомерСтраницы
1Ho C. Y.,
Li H. H.
Numerical databases on materials property data at CINDAS/Purdue University
View PDF
J.Chem.Inf. and Comput.Sci.199333136-45


+7 (499) 135-25-91
kis@ultra.imet.ac.ru
© Все права защищены ИМЕТ РАН, 2009
Разработка сайтов на заказ