 |
БД по свойствам материалов, применяемых в микроэлектронике
БД по свойствам материалов, применяемых в микроэлектронике (MPMD)
| Общие сведения |
| Название: | БД по свойствам материалов, применяемых в микроэлектронике |
| Аббревиатура: | MPMD |
| Сайт: | https://cindasdata.com/products/mpmd |
| Телефон: | |
| Факс: | |
| e-Mail: | sales@csa.com |
| Примечания: | Физические и физико-химические свойства материалов, применяемых в микроэлектронике. |
| Статус: | активна |
| Ключевые слова |
| диэлектрическая проницаемость, диэлектрические потери, керамика, коэффициент Зеебека, металл, механические, модуль Юнга, плотность, показатель преломления, ползучесть, полупроводниковые, прочность, пьезоэлектрические, твердость, температура Кюри, тепловое расширение, теплоемкость, теплопроводность, усталость, физические, химические |
| Организации - разработчики |
|---|
| Страна | Название | Адрес |
|---|
| США | Center for Information and Numerical Data Analysis and Synthesis of Purdue University (CINDAS) | West Lafayette, Indiana 47906 USA |
| Литературные ссылки |
| № | Авторы | Название | Источник | Год | Том | Номер | Страницы |
|---|
| 1 | Ho C. Y., Li H.H. | Numerical databases on materials property data at CINDAS/Purdue University
 | J.Chem.Inf. and Comput.Sci. | 1993 | 33 | 1 | 36-45 |
|
|
 |